En komparativ analyse av fordelene og ulempene ved atomkraftmikroskopi og skanningelektronmikroskopi
Atomkraftmikroskopi er et skanningsprobemikroskop utviklet fra det grunnleggende prinsippet for skanningstunnelmikroskopi. Atomkraftmikroskopi kan undersøke mange prøver og gi data for overflateforskning og produksjonskontroll eller prosessutvikling som konvensjonelle instrumenter for skanning av overflateruhet og elektronmikroskoper ikke kan gi. Så hva er fordelene og ulempene mellom de to? La oss ta en titt på følgende:
1. Fordeler:
Atomkraftmikroskopi har mange fordeler fremfor skanningselektronmikroskopi. I motsetning til elektronmikroskoper, som bare kan gi todimensjonale bilder, gir atomkraftmikroskoper ekte tredimensjonale overflatekart. Samtidig krever AFM ingen spesiell behandling av prøven, slik som kobberbelegg eller karbon, som kan forårsake irreversibel skade på prøven. For det tredje må elektronmikroskoper operere under høyvakuumforhold, og atomkraftmikroskoper kan fungere godt under normalt trykk og til og med i flytende miljøer. Dette kan brukes til å studere biologiske makromolekyler og til og med levende biologiske vev.
2. Ulemper:
Sammenlignet med skanningselektronmikroskop (SEM), er ulempen med atomkraftmikroskop at bildeområdet er for lite, hastigheten er for langsom og den er for påvirket av sonden. Atomkraftmikroskopi er en ny type instrument med høy oppløsning på atomnivå oppfunnet etter skannetunnelmikroskopi. Den kan undersøke de fysiske egenskapene til forskjellige materialer og prøver i nanometerområder, inkludert morfologi, i atmosfæriske og flytende miljøer, eller direkte utføre nanoskalamålinger. Manipulasjon; det har blitt mye brukt innen halvledere, nanofunksjonelle materialer, biologi, kjemisk industri, mat, medisinforskning og forskningseksperimenter av ulike nano-relaterte disipliner i vitenskapelige forskningsinstitutter, og har blitt et grunnleggende verktøy for nanovitenskapelig forskning . Sammenlignet med skanningstunnelmikroskopi, har atomkraftmikroskopi bredere anvendelighet fordi den kan observere ikke-ledende prøver. Skanningskraftmikroskopet, som er mye brukt i vitenskapelig forskning og industri, er basert på atomkraftmikroskopet.
