Atomkraftmikroskopi kombinert med invertert optisk mikroskopteknikk
FlexAFM-koblingsteknologien for invertert optisk mikroskop er tilgjengelig for alle kunder som er interessert i muligheten til å kombinere optisk mikroskopi og atomkraftmikroskopi. Systemet består av en universell FlexAFM invertert optisk mikroskopprøvetrinn, en mikroskopspesifikk prøveadapter for forskjellige mikroskoper (f.eks. Zeiss eller Olympus), og FlexAFM belysningskorreksjonsoptikk.
Hovedtrekkene til Atomic Force Microscopy kombinert med Inverted Optical Microscopy-teknikk er:
- Tilkoblingsadaptere for mikroskoper i Zeiss Axiovert/AxioObserver, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti og Leica DMI-serien. Andre modeller av inverterte optiske mikroskoper kan tilpasses for å passe modellen.
-Intuitiv operasjon på grunn av at det optiske synsfeltet til AFI og det inverterte optiske mikroskopet har samme orientering.
- Justeringen av utkragerarmen i det optiske synsfeltet oppnås ved den uavhengige bevegelsen av AFM-skannehodet i X- og Y-retningene, med AFM-skanneaksen og den optiske bildeaksen med en parallell avstand på 1 mm.
-Alignment chip teknologi eliminerer behovet for å utføre en ny cantilever arm justering i det optiske bildet etter utskifting av cantilever arm.
-Prøveplassering har 12 mm vandring i X- og Y-retningene.
- Prøveholdere kan tilpasses til mikroskopbærerark og petriskåler.
- Mulighet for å bruke linser med høy numerisk blenderåpning i kombinasjon med petriskåler med dekkglass.
Invertert optisk mikroskopenhet: easyScan 2FlexAFM AFM er integrert i et Zeiss invertert optisk mikroskop mens den hviler på en Accurion aktiv vibrasjonsdempende scene.
