Kort introduksjon av skannende sondemikroskopfunksjoner
Skanningssonskop (SPM) er en generell betegnelse for skanningstunnelmikroskop og forskjellige nye sondemikroskop utviklet på grunnlag av skanningstunnelmikroskop (for eksempel atomkraftmikroskopi (AFM), laserkraftmikroskopi (LFM), magnetisk kraftmikroskopi (MFM), etc. Det er et overflateanalyseinstrument utviklet internasjonalt de siste årene. Det er et høyteknologisk produkt som integrerer lys, maskin og elektrisitet ved å bruke moderne vitenskapelige og teknologiske prestasjoner som optoelektronisk teknologi, laserteknologi, svak signaldeteksjonsteknologi, presisjonsmekanisk design og prosessering, automatisk kontrollteknologi, digital signalbehandlingsteknologi, anvendt optisk teknologi med høy speed datamaskin og kontroll og høyoppløsning. Denne nye typen mikroskopisk verktøy har betydelige fordeler sammenlignet med tidligere mikroskop og analytiske instrumenter:
1. SPM har ekstremt høy oppløsning. Det kan lett "se" atomer, som er vanskelig for vanlige mikroskop eller til og med elektronmikroskop å oppnå.
2. SPM oppnår sanntid, høyoppløselige bilder av prøveoverflaten som virkelig viser atomene. I motsetning til noen analytiske instrumenter som beregner overflatestrukturen til en prøve gjennom indirekte eller beregningsmetoder.
3. Bruksmiljøet til SPM er avslappet. Elektronmikroskop og andre instrumenter har strenge krav til arbeidsmiljøet, og prøver må plasseres under høye vakuumforhold for testing. SPM kan fungere i vakuum, så vel som i atmosfæren, lav temperatur, romtemperatur, høy temperatur og til og med i oppløsninger. Derfor er SPM egnet for vitenskapelige eksperimenter i forskjellige arbeidsmiljøer.
