Funksjoner ved skanningsprobemikroskoper
Skanneprobemikroskopi er det tredje mikroskopet for å observere materiestrukturen på atomskala etter feltionemikroskopi og høyoppløselig transmisjonselektronmikroskopi. Med Scanning Tunneling Microscope (STM) som et eksempel, er dens laterale oppløsning 0.1~0.2nm, og dens vertikale dybdeoppløsning er 0.01nm. Slik oppløsning kan tydelig observere enkeltatomer eller molekyler fordelt på overflaten av prøven. Samtidig kan skannesondemikroskopet også utføre observasjonsforskning i luft, andre gasser eller væskemiljøer.
Skanneprobemikroskoper har egenskapene til atomoppløsning, atomtransport og nano-mikroprosessering. Men på grunn av de forskjellige arbeidsprinsippene til forskjellige skanningsmikroskoper i detalj, er informasjonen på overflaten av prøven reflektert av resultatene oppnådd av dem svært forskjellig. Skannetunnelmikroskopi måler distribusjonsinformasjonen til elektronstasjoner på overflaten av prøven, som har oppløsning på atomnivå, men som fortsatt ikke kan oppnå den sanne strukturen til prøven. Atommikroskopet oppdager interaksjonsinformasjonen mellom atomer, slik at arrangementsinformasjonen om atomfordelingen på prøveoverflaten kan oppnås, det vil si den virkelige strukturen til prøven. Men på den annen side kan ikke atomkraftmikroskopet måle den elektroniske tilstandsinformasjonen som kan sammenlignes med teorien, så de to har sine egne fordeler og ulemper.
