Måleprojektorer Mikroskopbruk og feilsøking
1. Hvordan forstørrelsesobservasjonen av måleprojektormikroskop kan tilpasses ulike krav
Måleprojektormikroskoper brukes til tredimensjonal inspeksjon og observasjon av elektroniske deler\integrerte kretskort\dreidehodeverktøy\magneter osv. Basert på disse ulike objektene som skal måles må observeres i forskjellig forstørrelsestilstand, hvordan tilpasse seg til disse forskjellige kravene? Det kan løses på flere måter a. Ved optisk ytelse b. Valgfri videoobservasjon c. Ved mekanisk ytelse d. Ved lyskildebelysning
Optisk ytelse: i henhold til objektet som skal observeres av kravene, gjennom valg av forskjellige okularer \ objektivlinse for å løse problemet med stor forstørrelse og stort synsfelt. Krever bare stor forstørrelse, kan erstattes av okularer med stor forstørrelse og objektivlinser, krever å se et stort synsfelt kan erstattes ved å bytte ut objektivlinsen, redusere okularene eller endre okularene med et stort synsfelt for å oppfylle kravene .
Videoobservasjon: Når optisk forstørrelse ikke er nok, kan elektronisk forstørrelse brukes til å kompensere. Når vi observerer samtidig og ønsker å kunne lagre og beholde, kan vi velge video. Det er forskjellige måter å video på: A. direkte gjennom skjermen B. kan kobles til en datamaskin (gjennom en digital CCD eller analog CCD-bildeinnsamlingskort) C. kan kobles til et digitalkamera (ulike digitale kameraer bør ta hensyn til de forskjellige grensesnittene og kompatibiliteten med mikroskopet)
Mekanisk ytelse: møter noen sveising, montering, stort integrert kretskort inspeksjonsfelt og arbeidsavstandskravene, kan vi gjennom den mekaniske ytelsen løse, for eksempel universalbrakett, vippearmbrakett, stor mobil plattform og så videre. Med sine ytelsesegenskaper, når inspeksjon av store gjenstander direkte gjennom braketten og plattformen kan fullføre vårt inspeksjonsarbeid. Det er ikke nødvendig å flytte objektet vårt for å bli testet. For eksempel: Et selskap på grunn av inspeksjonskretskortet er relativt stort og trenger å observere den subtile tilten, kretskortet er veldig vanskelig å flytte opp, bare gjennom mekanisk bevegelse for å fullføre inspeksjonsarbeidet, kan bruken av universalbrakett også møtes disse kravene.
Lyskildebelysning: lyskildebelysning på evnen til å se objektet under test spiller en avgjørende rolle, når du velger belysningen må være basert på egenskapene til objektet som testes selv (ta hensyn til lyskravene, sterk \ svak \ reflekterende osv.) for å velge passende belysningsverktøy og belysningsmetoder. Hvis det generelle måleprojektormikroskopet kommer med transmisjon, kan ikke skrå belysning dekke dine belysningsbehov, vi har også forberedt for deg LED kald lyskildelampe, ringlys, enkel / dobbel gren fiberoptisk kald lyskildelampe.
2. Utførelsesform av mikroskopmikroskop for å løse problemet med å observere den raske posisjoneringen og bevegelsen av objektet som testes
Sett objektet som skal måles under mikroskopet etter at det første vil bli justert til * små, multipler av bildet er tydelige når komponenten som skal måles til midten av synsfeltet. Juster deretter mikroskopets dobbeltsidezoomhåndhjul gradvis, til det store forstørrelsesbildet er helt klart. Hvis du trenger å observere komponentene ** mobil observasjon, kan utstyres med et mobilt bord, som kan flyttes vertikalt og horisontalt, bevegelig avstandsnøyaktighet på 0,1 mm.
3. Hvordan løse menneskelige synsproblemer, forårsaket av observasjon av kikkertmikroskop kan ikke kombineres og løse problemet med svimmelhet
Årsaker: bruk av tradisjonelle mikroskoper i lang tid for å se et bilde, så vel som lange timer med arbeid forårsaket.
Løsning:
1, vil bruken av mikroskopdatamaskinavbildningssystem eller parallell lysbanemikroskop lindre problemene ovenfor.
2, gjennom selvregulering, ta hensyn til hvile, mer til avstanden eller grønne gjenstander ser ut til å regulere synet.
