Anvendelser av metallurgiske mikroskoper i et bredt spekter av bransjer
Metallografisk mikroskop ble først avledet fra metallografi, dets hovedformål er å observere den metallografiske organiseringen av profesjonelle instrumenter, er spesielt brukt til å observere den metallografiske organiseringen av ugjennomsiktige objekter som metall- og mineralmikroskop. Disse ugjennomsiktige objektene kan ikke observeres i det vanlige transmitterte lysmikroskopet, så hovedforskjellen mellom metallografiske og vanlige mikroskoper er at førstnevnte med reflektert lys, mens sistnevnte med transmittert lysbelysning.
Metallografisk mikroskop har egenskapene til god stabilitet, klar bildebehandling, høy oppløsning, stort og flatt synsfelt. Den kan ikke bare foreta mikroskopiske observasjoner på okularet, men også observere sanntids dynamiske bilder på datamaskinens (digitalkamera) skjerm, og redigere, lagre og skrive ut de nødvendige bildene, som hovedsakelig brukes innen maskinvare, slicing, IC-komponenter, LCD/LED og så videre.
Fordi det er fem typer linser for metallurgisk mikroskop: EPI lysfelt fluorescens; BD lyst felt og mørkt felt; SLWD super lang arbeidsavstand; ELWD forbedret arbeidsavstand; med korreksjonsring. I maskinvareindustrien er det noe maskinvare, refleksjonen er mer alvorlig, du kan velge BD lysfelt og mørkt felt objektiv for observasjon. Et annet eksempel, i LCD-industrien, observasjon og måling av ledende partikler, kan metallurgisk mikroskop også utstyres med DIC, som kan få objektet til å se mer tredimensjonalt. Fordi det er med polarisert lys, to sett med filtre, dannelsen av polarisert lys mikroskop observasjonsteknologi, i henhold til de dobbeltbrytende egenskapene, retningsendring i retningen av lysbanen, selvfølgelig, polarisert bare med bruk av DIC, individuelt har liten betydning. Metallografisk mikroskop brukes til IC-komponenter, metallografiske seksjoner og andre mikrostørrelsesmålinger og -analyser når. Kan bruke intelligent programvare Iview-DIMS måling, høy grad, effektivt redusere menneskelige feil i måling. Enkel å lære og bruke, kan enkelt oppnå punkt, linje, bue, halv warp, rett deformering, vinkel og andre relaterte dimensjoner av ** måling og analyse, lett å ta målebilder og tilpasse en rekke testrapporter.
