Belysningsmetode for å observere partikler ved bruk av mørkt felt
Ultramikroskopiske partikler kan observeres med mørkefeltmetoden. De såkalte ultramikroskopiske partiklene refererer til de små partiklene som er mindre enn oppløsningsgrensen til mikroskopet. Prinsippet for mørkfeltbelysning er: ikke la hovedbelysningslyset komme inn i objektivlinsen, og bare lyset spredt av partiklene kan komme inn i objektivlinsen for avbildning.
Derfor er bildet av lyse partikler gitt på den mørke bakgrunnen. Selv om bakgrunnen til synsfeltet er mørk, er kontrasten (kontrasten) veldig god, noe som kan forbedre oppløsningen.
Mørkfeltbelysning kan deles inn i enveis og toveis
(1) Enveis mørkefeltbelysning Figur 8 er et skjematisk diagram av enveis mørkefeltbelysning. Det kan sees fra figuren at etter at lyset som sendes ut av belysningsinstrumentet 2 er reflektert av det ugjennomsiktige prøvearket 1, kommer ikke hovedlyset inn i objektivlinsen 3, og lyset som kommer inn i objektivlinsen er hovedsakelig spredt av partikler eller ujevnt. detaljer. Åpenbart er denne enveis mørkefeltbelysningen effektiv for å observere eksistensen og bevegelsen av partikler, men den er ikke effektiv for å reprodusere detaljene til objekter, det vil si at det er et fenomen med "forvrengning".
(2) Toveis mørkfeltbelysning Toveis mørkfeltbelysning kan eliminere forvrengningsfeilen forårsaket av enveis. Foran den vanlige kondensatoren med tre linser, plasser en ringformet membran, som vist i figur 9, for å realisere toveis mørkfeltbelysning. Væsken senkes ned mellom den siste delen av kondensatoren og objektivglasset, mens rommet mellom dekkglasset og objektivlinsen er tørt. Derfor blir den ringformede strålen som går gjennom kondensatoren fullstendig reflektert i dekkglasset og kan ikke komme inn i objektivlinsen, og danner en løkke som vist på figuren. Bare lyset spredt av partiklene på prøven kommer inn i objektivlinsen, og danner en toveis mørkfeltbelysning
