Bruksområder for metallurgiske mikroskoper på tvers av bransjer
Avledet fra metallografi, er det metallurgiske mikroskopet et profesjonelt instrument som hovedsakelig brukes til å observere metallografiske strukturer. Den er designet for å undersøke den metallografiske mikrostrukturen til ugjennomsiktige prøver som metaller og mineraler. Disse ugjennomsiktige prøvene kan ikke observeres med vanlige lysmikroskoper. Derfor ligger nøkkelforskjellen mellom et metallurgisk mikroskop og et konvensjonelt mikroskop i belysning: førstnevnte bruker reflektert lys mens sistnevnte er avhengig av transmittert lys.
Metallurgiske mikroskoper har utmerket stabilitet, skarp bildebehandling, høy oppløsning og et stort flatt synsfelt. Observasjon kan utføres ikke bare gjennom okularene, men også i sanntid på skjermen til en datamaskin eller digitalkamera. Ta bilder kan redigeres, lagres og skrives ut. De er mye brukt i maskinvarebehandling, metallografisk seksjonering, IC-komponenter, LCD- og LED-industri.
Det er fem vanlige objektivtyper for metallurgiske mikroskoper: EPI brightfield fluorescens, BD brightfield-darkfield, SLWD superlang arbeidsavstand, ELWD utvidet lang arbeidsavstand og objektiver med korreksjonskrage. I maskinvareindustrien er BD brightfield-darkfield objektiver egnet for svært reflekterende metallarbeidsstykker. For eksempel, når du observerer og måler ledende partikler i LCD-industrien, kan det metallurgiske mikroskopet utstyres med DIC for å produsere stereoskopiske bilder. Dette systemet tar i bruk polarisert lysteknologi ved bruk av sammenkoblede filtre. Basert på dobbeltbrytning endrer den lysets retning på en kontrollert måte. Polarisering i seg selv gir begrensede fordeler og fungerer best når den kombineres med DIC.
Når du måler og analyserer små funksjoner til IC-komponenter og metallografiske seksjoner, kan den intelligente måleprogramvaren Iview-DIMS tas i bruk. Den gir høy nøyaktighet og reduserer effektivt manuelle målefeil. Programvaren er brukervennlig og støtter måling og analyse av punkter, linjer, buer, radier, diametre, vinkler og andre geometriske dimensjoner. Den kan også ta målingsbilder og generere tilpassede testrapporter.
