Atomic Force Microscopy (AFM) systemstruktur
1. Tvingsdeteksjonsseksjon:
I systemet med atomkraftmikroskopi (AFM) er kraften som skal oppdages van der Waals-kraften mellom atomer. Så i dette systemet brukes en cantilever for å oppdage endringene i kraft mellom atomer. Denne mikroutkrageren har visse spesifikasjoner, for eksempel lengde, bredde, elastisitetskoeffisient og nålespissform, og valget av disse spesifikasjonene er basert på egenskapene til prøven og forskjellige driftsmoduser, og forskjellige typer sonder er valgt.
2 Posisjonsdeteksjonsseksjon:
I systemet med atomkraftmikroskopi (AFM), når det er interaksjon mellom nålespissen og prøven, vil utkragingen svinge. Derfor, når laseren bestråles ved enden av utkragingen, vil posisjonen til det reflekterte lyset også endre seg på grunn av utkragingen, noe som resulterer i generering av offset. I hele systemet brukes laserpunktposisjonsdetektoren til å registrere offset og konvertere den til et elektrisk signal for signalbehandling av SPM-kontrolleren.
3 Tilbakemeldingssystem:
I atomkraftmikroskopsystemet (AFM), etter at signalet er tatt inn av en laserdetektor, brukes det som et tilbakemeldingssignal i tilbakemeldingssystemet som et internt justeringssignal, og driver skanneren vanligvis laget av piezoelektriske keramiske rør til å bevege seg hensiktsmessig for å opprettholde riktig kraft mellom prøven og nålespissen.
Atomisk kraftmikroskopi (AFM) kombinerer de tre delene ovenfor for å presentere overflatekarakteristikkene til prøven: i AFM-systemet brukes en liten utkrager for å føle interaksjonen mellom nålespissen og prøven. Denne kraften vil få utkrageren til å svinge, og deretter brukes laseren til å bestråle enden av utkragingen. Når husken dannes, vil posisjonen til det reflekterte lyset endres, noe som forårsaker en forskyvning. På dette tidspunktet vil laserdetektoren registrere denne forskyvningen og også gi tilbakemeldingssystemet signalet på dette tidspunktet for å lette riktig justering av systemet. Til slutt vil overflatekarakteristikkene til prøven presenteres i form av et bilde.
