Hvordan objektemissivitet påvirker strålingstemperaturmåling av termometre
Praktisk talt alle virkelige gjenstander som eksisterer i naturen er ikke svarte kropper. Bortsett fra strålingsbølgelengden og objekttemperaturen, er strålingsmengden til ethvert reelt objekt også relatert til faktorer som materialtype, fabrikasjonsmetode, termisk prosess, overflatetilstand og miljøforhold. Derfor, for å gjøre svartlegemestrålingslovene gjeldende for alle virkelige objekter, må det innføres en proporsjonal koeffisient knyttet til materialegenskaper og overflateforhold, nemlig emissivitet. Denne koeffisienten indikerer hvor nært den termiske strålingen til en virkelig gjenstand tilnærmer seg svartlegemestråling, og verdien varierer fra null til mindre enn 1. I henhold til strålingslovene kan den infrarøde strålingskarakteristikken til ethvert objekt oppnås når emissiviteten til materialet er kjent.
Hovedfaktorene som påvirker emissiviteten inkluderer materialtype, overflateruhet, fysisk-kjemisk struktur og materialtykkelse.
Når du måler temperaturen til et mål med et infrarødt strålingstermometer, måler instrumentet først mengden infrarød stråling fra målet innenfor bølgelengdebåndet, og beregner deretter temperaturen på det målte målet. Et monokromatisk termometer er proporsjonalt med strålingsmengden innenfor bølgelengdebåndet; et tofarget termometer er proporsjonalt med forholdet mellom strålingsmengder i to bølgelengdebånd.
Infrarødt system: Et infrarødt termometer består av et optisk system, fotoelektrisk detektor, signalforsterker, signalbehandlingsenhet, display og utgangsmoduler. Det optiske systemet samler den infrarøde strålingsenergien til målet innenfor sitt synsfelt. Størrelsen på synsfeltet bestemmes av termometerets optiske komponenter og deres posisjoner. Den infrarøde energien fokuseres på den fotoelektriske detektoren og omdannes til tilsvarende elektriske signaler. Disse signalene behandles av forsterkeren og signalbehandlingskretsene, og konverteres til temperaturverdien til det målte målet i samsvar med instrumentets interne algoritmer og målemissivitetskorreksjon.
