Drift og feilsøking av profilprojektormikroskoper
Hvordan tilpasse forstørrelse av måleprojektormikroskoper for ulike observasjonskrav
Måleprojektormikroskoper brukes til tredimensjonal inspeksjon og observasjon av elektroniske komponenter, integrerte kretskort, roterende verktøy, magneter og andre arbeidsstykker. Siden forskjellige objekter krever observasjon ved forskjellige forstørrelser, kan disse varierte kravene oppfylles på flere måter: a. optisk ytelse, b. videoobservasjon, c. mekanisk design, d. belysning.
Optisk ytelse: I henhold til observasjonskravene til det målte objektet, kan problemer som høy forstørrelse og stort synsfelt løses ved å velge forskjellige okularer og objektiver. Hvis bare høy forstørrelse er nødvendig, kan okularer og objektiver med høyere effekt erstattes. For et bredere synsfelt kan objektivet endres, okularforstørrelsen reduseres, eller okularer med bredfelt brukes for å møte etterspørselen.
Videoobservasjon: Når optisk forstørrelse er utilstrekkelig, kan elektronisk forstørrelse brukes som kompensasjon. Videoobservasjon anbefales også hvis sanntidsvisning og datalagring er nødvendig. Det finnes flere videoløsninger: A. direkte tilkobling til en skjerm; B. tilkobling til en datamaskin via et digitalt CCD eller analogt CCD bildefangstkort; C. tilkobling til et digitalt kamera (for forskjellige kameraer må grensesnittkompatibilitet og matching med mikroskop vurderes).
Mekanisk ytelse: I applikasjoner som sveising, montering, inspeksjon av store integrerte kretskort og scenarier som krever spesifikke arbeidsavstander, kan mekaniske løsninger tas i bruk, for eksempel universalbraketter, vippearmstativ og store bevegelige plattformer. Takket være deres strukturelle egenskaper kan store gjenstander inspiseres direkte ved hjelp av disse stativene og plattformene uten å flytte selve arbeidsstykket. For eksempel må en bedrift inspisere relativt store kretskort som krever fin skrå observasjon; siden platene er vanskelige å flytte, kan inspeksjon bare fullføres ved mekanisk bevegelse, noe som kan tilfredsstilles fullt ut ved å bruke et universalstativ.
Belysning: Belysning spiller en kritisk rolle i å tydelig observere det målte objektet. Når du velger belysning, må passende belysningsenheter og belysningsmetoder velges basert på egenskapene til objektet (inkludert lysintensitet, reflektivitet og andre krav). Hvis standard transmittert og skrå belysning av generelle måleprojektormikroskoper ikke kan møte dine behov, tilbyr vi også LED-kaldlyskilder, ringlys, enkelt-/dobbeltfiber-kaldlyslamper og andre alternativer.
