Effekten av et objekts emissivitet på måling av strålingstemperatur
Nesten alle faktiske gjenstander som finnes i naturen er ikke svarte kropper. Strålingsmengden til alle faktiske objekter er ikke bare avhengig av strålingens bølgelengde og temperaturen til objektet, men også av faktorer som type materiale, forberedelsesmetode, termisk prosess, overflatetilstand og miljøforhold som utgjør gjenstand. Derfor, for at strålingsloven for svartlegeme skal gjelde for alle praktiske objekter, er det nødvendig å innføre en proporsjonal koeffisient knyttet til materialegenskaper og overflatetilstander, nemlig emissivitet. Denne koeffisienten representerer nærheten mellom den termiske strålingen til det faktiske objektet og svartlegemestrålingen, med en verdi mellom null og en verdi mindre enn 1. I henhold til strålingsloven, så lenge emissiviteten til et materiale er kjent, er den infrarøde strålingsegenskapene til ethvert objekt er kjent.
Hovedfaktorene som påvirker emissiviteten inkluderer materialtype, overflateruhet, fysisk-kjemisk struktur og materialtykkelse.
Når du måler temperaturen på et mål ved hjelp av et infrarødt strålingstermometer, er det første trinnet å måle den infrarøde strålingen til målet innenfor dets bølgelengdeområde, og deretter beregner termometeret temperaturen på det målte målet. Det monokromatiske termometeret er proporsjonalt med strålingsmengden innenfor båndet; Dobbeltfargetermometeret er proporsjonalt med forholdet mellom stråling i begge bånd.
Infrarødt system: Det infrarøde termometeret består av et optisk system, en fotodetektor, en signalforsterker, signalbehandling, displayutgang og andre komponenter. Det optiske systemet samler den infrarøde strålingsenergien til målet innenfor sitt synsfelt, og størrelsen på synsfeltet bestemmes av de optiske komponentene og deres posisjoner til termometeret. Infrarød energi fokuseres på fotodetektoren og omdannes til tilsvarende elektriske signaler. Signalet konverteres til temperaturverdien til det testede målet etter å ha blitt forsterket og behandlet av signalbehandlingskretsen, og korrigert i henhold til algoritmen for instrumentets interne behandling og målemissiviteten.
