Verifikasjonsmetode for metallografiske mikroskoper
1. Målingssporbarhet
Ved å bruke en 0,01 mm mikroskopskala som prøven, samler du mikroskopiske bilder av skalaer med objektivlinser på 3,2, 6,3, 12,5, 25 og 50 ganger, og linser med mellomliggende variabel forstørrelse på henholdsvis 8, 10, 12,5, 16 og 20 ganger, og skriv dem ut med samme forstørrelse. Figur 1 viser et mikroskopisk bilde av en 100x skala tatt under en 12,5x objektivlinse og en 8x mellomliggende variabel forstørrelseslinse, med en synsfeltdiameter på 0,8cm. Det innsamlede bildet er klart, uten aberrasjoner eller geometriske forvrengninger observert av det blotte øye, og lyset innenfor synsfeltet er ensartet. Mål målestokklinjen med en 0,02 mm vernier-skyvelære og konverter den til den faktiske forstørrelsen, som oppfyller kravene til JB/T8230.6-1999 "Microscope Magnification". Hvis den teoretiske forstørrelsen er 100, er den faktiske forstørrelsen 202,4; Den teoretiske forstørrelsen er 500, og den faktiske forstørrelsen er 497,8. De relative feilene med den teoretiske forstørrelsen er henholdsvis 1,8 %, 0,12 % og 0,44 %, og de relative feilene er alle<2%
Den venstre bredden på samme type skalalinje er 2,24 μm, den midterste bredden er 2,49 μm, og den høyre bredden er 2,56 μm. Den relative feilen mellom maksimums- og minimumsverdiene på * er 4,6 %, noe som indikerer at forstørrelsesfaktoren innenfor hele synsfeltet oppfyller kravene i JB/T8230.6-1999 "Microscope Magnification"-standarden.
Den teoretiske avstanden til 0,01 mm mikroskopskalaen er 0,01 mm. Ved bruk av bildekvantitativ og semi-kvantitativ analyseprogramvare ble avstanden mellom skalalinjene i figur 1 målt 5 ganger, og måleresultatene er vist i tabell 2. Det kan sees at den relative feilen mellom de 5 måleresultatene og den teoretiske verdien er mellom 1,10 % og 1,37 %, noe som indikerer at kravene til den også oppfyller kravene til den. JB/T8230.6-1999 standard.
Ved å bruke en 0,01 mm mikroskopskala som prøve, er mikroskopskalabildet tatt av et digitalt fotografisystem klart og visuelt observert uten aberrasjon eller forvrengning. Målingen av forstørrelse, avstand og skalalinjebredde på skalaen oppfyller standardkravene, noe som indikerer at målingen av mikroskopet og det konfigurerte digitale fotograferingssystemet kan spores tilbake til International System of Units (SI). Den oppfyller kravene til metallografisk analyse og inspeksjon, og oppfyller kravene i ISO/IEC 17025:2005 for målingssporbarhet.
2 Mikrostruktur
Mikrostrukturen til duktile jernprøver samlet ved hjelp av et digitalt bildesystem er vist i figur 2. Samlingsforstørrelsen er 1000. Det kan sees at den innsamlede mikrostrukturen er tydelig. Utskriftsforstørrelsen er satt til 1000, og lengden på 0,02 mm linjalen på bildet er målt med en 0,02 mm vernier-skyvelære, som er 20,24 mm. Når det konverteres til en forstørrelse på 012, er den relative feilen mellom forstørrelsen og den teoretiske innstillingen 1. 2 %, i samsvar med JB/T 8230. Krav 6-1999. Mikrostrukturen som samles inn av det digitale bildesystemet oppfyller kravene til metallografisk analyse og inspeksjon.
3 Lengdemåling
Bruk bildekvantitativ og semikvantitativ analyseprogramvare for å måle avstanden til skalalinjen i figur 1. Start fra venstre * lang skalalinje, mål avstanden til skalalinjene ved 30 teoretiske avstander på 0,01, 0,02,..., 0,29, 0,30 mm fra venstre til høyre. Måleresultatene er vist i tabell 3, og det kan ses at den relative feilen mellom måleresultatene og de teoretiske verdiene er mindre enn 2 %. Denne programvaren oppfyller kravene til metallografisk analyse og inspeksjon for lengdemålingsresultater.
Sammenligning av 4 spektre
Ta sfæroidiseringsvurderingen av 20 stålkuler som eksempel, bekrefte sammenligningen av bildekvantitative og semikvantitative analyseprogramvarespektre. Først ble bilder av 20 stålkonstruksjonen samlet inn. Etter undersøkelse var bildene klare og synsfeltstørrelsen ble kontrollert til 71 mm × 97 mm. Gjennom sammenligning av spektrene ble sfæroidiseringsnivået til 20 stålkulen bestemt til å være nivå
4. Forstørrelsen av standardspekteret for DL/T 674-1999 "Grading of Pearlite Spheroidization in 20 Steel for Thermal Power Plants" er 500, og størrelsen på sfæroidiseringsnivå 4-spekteret er 68 mm × 98 mm. Plasser det innsamlede bildet og standardspekteret i samme synsfelt, kopier dem på skjermen og skriv dem ut med en hvilken som helst forstørrelse på samme grensesnitt. Mål forstørrelsen av de to bildene, standardspekteret er 316 ganger, det innsamlede bildet er 308 ganger, og den relative feilen er -2. 53 %, mål størrelsen på to bilder, og standardspekteret er 43 mm × 60 mm. Det kan ses at prøvebildet oppfyller kravene til både forstørrelse og synsfeltstørrelse.
